멀티미터를 사용하여 회로 기판 품질을 테스트하는 방법

1. 파손된 경우 가장 흔한 원인은 파손 파손입니다. 일반적으로 칩의 전원 단자의 접지 저항이나 전압을 측정합니다. 수십옴 이내이거나 전원 전압이 정상치보다 높을 경우, 대부분은 전원 단자를 분리하여 전원의 정상 여부를 측정할 수 있습니다. 측정된 저항이 크면 다른 포트가 손상되었을 가능성이 높습니다. 다른 포트도 하나씩 측정할 수 있습니다. 접지에 단락된 포트가 있는지 확인하십시오.

2. 멀티미터에는 이 기능이 없습니다. 일반적으로 멀티미터를 사용하여 사용 중 핀 전압을 감지하여 대략적인 판단을 내리는데 이는 신뢰할 수 없습니다. 그리고 판단은 이 IC에 대해 극도로 숙지한 상태에서 이루어진다.

확장 정보:

다음은 방법에 대한 자세한 소개입니다.

1. 오프라인 감지

각 핀을 측정합니다. IC 칩은 접지에 연결되어 있으며 그 사이의 양수 및 음수 저항 값입니다. 이것을 좋은 IC 칩과 비교하여 결함 지점을 찾으십시오.

2. 온라인 감지?

직류 저항 감지 방법은 오프라인 감지와 동일합니다. 하지만 주의하세요. 테스트할 회로 기판의 전원 공급 장치를 분리하세요. 측정 시 주변 장치의 영향에 주의하세요.

3. 테스트 방법

dB 단위의 멀티미터를 사용하여 IC의 대략적인 AC 전압을 측정합니다. dB 레벨이 없으면 0.1-0.5μF 절연 DC 커패시터를 양극 테스트 리드에 직렬로 연결할 수 있습니다. 이 방법은 동작 주파수가 상대적으로 낮은 IC에 적합합니다. 그러나 이러한 신호는 고유 주파수와 다른 파형의 영향을 받으므로 측정된 데이터는 대략적인 것입니다.

4. 총 전류 측정 방법

총계를 측정하여 IC 전원 공급 장치의 전류, IC의 품질을 판단합니다. 대부분의 IC는 DC 결합되어 있으므로 IC가 손상되면(예: PN 접합 파괴 또는 개방 회로) 후속 단계의 포화 및 차단을 유발하여 총 전류가 변경됩니다. 따라서 총 전류를 측정하면 IC의 품질을 결정할 수 있습니다. 루프 저항의 전압을 온라인으로 측정하면 전류 값을 계산할 수 있습니다.

바이두 백과사전 - 멀티미터